1.植物冠層分析儀的直接測量法和間接測量法優缺點

　　直接測量法通過先測定所有葉片的葉面積，再計算LAI，因要剪下全部待測葉片，多數屬于毀壞性測量，或至少會干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數據的質量，直接測量費時、費力。

　　間接測量法是利用冠層結構與冠層內輻射與環境的相互作用這一定量耦合關系，通過植被冠層的輻射轉移模型來推斷LAI，可以避免直接測量法所造成的大規模破壞植被的缺點，不受時間的限制，獲取數據量大，儀器容易操作，方便快捷，還可以測定一年中森林冠層LAI的季節變化。

　　2.植物冠層分析儀測量LAI的原理及理想光照條件

　　當光線透過植物冠層時，由于受到葉片和枝干的阻攔，輻射強度會迅速消減，根據其消減程度就可推算出植物的葉量。冠層分析儀便是依據此原理，通過測量植被冠層以上（A）和植被冠層以下（B）5個角度的透射光線，利用植被樹冠的輻射轉移模型計算LAI。理想的光照條件是均勻的陰天或者散射光照下，易找到合適的測量時間往往是黎明之前和日落之后的瞬間。作為一般原則，如果可以看到地上的影子或者林冠上有陽光照射的葉子，這時的天空的光照條件就沒有滿足。

　　3.植物冠層分析儀的不同測量模式

　　單傳感器模式：適合測量可將傳感器置于冠層之上的低矮植被類型，如低矮灌木、農作物和草本植物，但也可以用于高大森林植被類型的測定；

　　雙傳感器模式：用于森林測量或作物測量，其中一個傳感器固定在冠層上部，需要增加長的擴展線；

　　遙測模式：主要用于缺少空地的森林。

　　4.測量喬木林下的灌木層的LAI

　　先測定喬木層的LAI，然后測定灌木層和喬木層的LAI，兩者之差即為灌木層的LAI。